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    一眼看懂光譜儀原理 光譜儀廠家術語解析

    更新時間:2018-01-17 08:37:32 點擊數:1625

    一眼看懂光譜儀原理 光譜儀廠家術語解析

       作為檢測行業,不論是直讀光譜儀還是熒光光譜儀,行業內有很多的術語都讓人不是好理解,本文列出了那些與光譜測定法有關系,但又不是很好理解的術語,它們及其解釋是按照字母順序排列的。



    加干擾,元素間疊加影響:某一元素的譜線強度在另一元素鄰近譜線干擾下所受到的影響。分析線:分析元素含量值所采用的元素譜線。

    電弧激發:以長時間,低電流火花放電。

    基體校準曲線:根據雙元素試樣的測試值計算出來的校準曲線。雙元素試樣不存在元素間干擾。這種曲線在整體校準時用作期望曲線。

    基體元素:試樣基體元素,其重量百分比在試樣中是最大的(比如,鋼鐵試樣中的鐵)。

    BEC:背景當量含量值。與譜線背景相當的凈強度所對應的含量值。

    雙元素試樣:只含基體元素和另一種元素的校準試樣。用雙元素試樣來計算無元素間干擾的校準曲線。

    校準曲線:試樣中某一元素的含量值與用分析線測得的強度值之間的函數關系。

    校準試樣:用來校準發射光譜儀的已用化學方法分析過的試樣。

    污染:試樣上或試樣內所不希望有的外來物質,通常是由觸摸試樣、試樣制備低或激發臺中所存在的東西所造成。

    激發光源,光源:光譜儀的電子部件,用來產生分析試樣所必需的電子放電。

    元素間影響:見疊加干擾。

    內標:試樣基體元素的譜線條。這條譜線應和分析元素的譜線同時進行測試,并用作參考值。

    基體影響:當試樣基體中含有要分析的元素時出現的干擾。

    基體,試樣基體:試樣中所有合金物質的總和。

    多重干擾:其它合金元素對某一元素譜線強度的影響。

    光室,光學系統:把光轉變為電的光譜儀組成部分。光學系統通常由支架、光柵、光電倍增管、狹縫和折射透鏡組成。

    初級狹縫,入射狹縫:發射出來的光進入光學系統所經過的狹縫。

    描跡曲線圖的漂移:光學系統描跡曲線圖相對于次級狹縫產生的位移。

    鋼種:合金類型,它是所有類似基體試樣的總稱。所謂基體類似,即,試樣中的合金物質基本相同。鐵基鋼種的例子有低合金鋼、不銹鋼、易切削鋼,等。

    參考線:一條譜鋪線。用這條譜線與分析譜線比較來計算強度比。通過計算強度比(分析線/參考線)來提高再現性能力。參考線一般是基體元素(比如,鋼鐵試樣中的Fe)的一條特殊譜線。

    折射透鏡:玻璃或石英平面鏡,用來精確調整光室中的光路。

    羅蘭圈:一個虛構的圓圈,在這個圓圈上裝有初級狹縫、凹面反射光柵和所有的次級狹縫(出射狹縫),該圈的直徑等于光柵的曲率半徑。

    火花激發:以短時間,大電流放電形式對金屬試樣進行激發。

    標準化試樣:均勻化極好的試樣,可用來對儀器進行標準化。

    標準化:測定修正系數并用它對發射光譜儀的測試值進行修正的操作過程。標準化可使校準保持在準確狀態。




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